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Ni-Te系统的扩散激活能和扩散系数研究

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在Ni基底上电镀Te薄膜,然后再不同温度下对样品进行相同时间的真空热处理,经室温拉断后测得样品沿晶界断裂深度x。通过拟合ln(x2/t)与1/t的线性关系求出扩散激活能,得出中低温段Te在纯Ni中…

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关键字:Ni-Te 系统 扩散